VIEW Benchmark XLT大行程非接触式计量系统

QVI 旗下 VIEW Benchmark XLT是一款稳定可靠的大行程非接触式计量系统。XLT拥有从900毫米X1500毫米到1500毫米X2000毫米的延伸行程范围，…

VIEW Benchmark 624大容量运输三轴式测量系统

VIEW Benchmark 624是QVI旗下一款大容量式全自动三轴尺寸测量系统.®VIEW Benchmark 624的移动桥式结构和光学可使被测组件某始某终保持…

VIEW Pinnacle+ Plus好精度的尺寸测量系统

Pinnacle+Plus拥有坚硬的花岗岩支撑结构和高性能的Z轴移动组件，使测量微电子零件和组件时产生尽可能低的不确定性.好的线性马达控制技术…

VIEW BenchMark 450影像测量仪

BenchMark 450 主要技术参数 XY 精度:E2=(2.5+5L/1000)微米Z精度:E1=(2.0+8L/1000)微米 （ 带TTL激光和可选5倍镜头）英制单位公制单位测…

VIEW BenchMark 250影像测量仪

BenchMark 250 主要技术参数XY 精度:E2=(1.8+6L/1000)微米(E2=(1.0+6L/1000)微米需高分辨率光栅尺) Z 精度:E1=(2.0+5L/1000)微米(E1=(1.…

进口精度好VIEW系列影像测量仪Summit 450/625/800

Summit450/625/800 参数介绍：XY 精度: E2=(2.0+4L/1000)um (E2=(1.5+5L/1000)um 高分辨率刻度尺)Z 线性精度: E1=(1.8+5L/1000)um (E1=(…

VIEW Benchmark300 影像测量仪

XYZ测量行程：300x300x150 mm/ 300x300x200 mm承载力：30 kg光学镜头：单放大倍率，固定倍率固定镜头光学与工厂可配置的后适…

MicroLine-300一款桌上型半自动CD测量系统

主要技术参数：◆测量范围(XYZ)：标准：200×200×25mm；可选：300x300x25◆视场内测量精度：10nm(100X 镜头)；Z轴ju jiao范围：25…

VIEW MicroLine 1000/2000/3000自动化关键尺寸测量系统

■测量范围(XYZ)：100x 100x 175 mm■测量范围(XYZ)：200x 200x 175 mm ■测量范围(XYZ)：300x 300x 145 mm

VIEW Pinnacle 250有产出好精度尺寸测量系统

VIEW Pinnacle 250影像测量仪有着非某凡的精度和生产率，优某异的MTBF性能，以及在同类型自动测量系统中某低的购置成本。其独某特的可编…

Precis® 200影像测量仪

新的Precis® 200是基于Micro-Metric的Innova晶圆量测系统做出来，采用了VMM 公司好的设计和技术。, 新款Precis 包含了很多可配置选项，…

micro.vu影像测量仪的租赁与维修软件升级

小行程-Vertex系列测量行程(XY)：250x160 mm-315x315mm测量高度(Z)：160-250 mm适用于航空航，**，连接器，电子行业，O形环等行业…